Головна сторінка бібліотеки Спрощенний режим пошуку Інструкція з пошуку
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Книжкові видання- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
у знайденому
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Відсортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнятипом документа
Пошуковий запит: (<.>R=29.35.43$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 22
Показані документи с 1 по 20
 1-10    11-20   21-22 
1.
   537.5
   Э45


   
    Электронная микроскопия тонких кристаллов [Текст] / П. Хирш [и др.] ; ред. Л. М. Утевский. - Москва : Мир, 1968. - 574 с. : рис. - 3.44 р., 3.44 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ КРИСТАЛЛОВ
Дод.точки доступу:
Хирш, П.
Хови, А.
Николсон, Р.
Пэшли, Д.
Уэлан, М.
Утевский, Л. М. \ред.\

Примірників усього: 6
аб.1 (3), аб.4 (3)
Вільні: аб.1 (2), аб.4 (3)

Знайти схожі

2.
543.062
М 59


   
    Микроанализ и растровая электронная микроскопия [Текст] = Microanalyse et Microscopie Electronique à Balayage : пер. с франц. / ред.: Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье ; пер. Г. Д. Стельмакова ; ред. пер. И. Б. Боровский. - Москва : Металлургия, 1985. - 392 с. : ил. - 5.10 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
микроанализ -- микроскопия электронная -- электронная оптика -- рентгеновское излучение -- анализ геологических образцов
Дод.точки доступу:
Морис, Ф. \ред.\
Мени, Л. \ред.\
Тиксье, Р. \ред.\
Стельмакова, Г. Д. \пер.\
Боровский, И. Б. \ред. пер.\

Примірників усього: 8
аб.4 (5), чз.2 (1), аб.1 (2)
Вільні: аб.4 (5), чз.2 (1), аб.1 (2)

Знайти схожі

3.
   681.7
   Д 95


    Дюков, Валентин Георгиевич.
    Растровая оптическая микроскопия [Текст] / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. - Москва : Наука, 1992. - 208 с. : ил. - (Современные физико-технические проблемы). - ISBN 5-02-014374-Х : 121.38 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
микроскопы -- оптические схемы -- контрольно-измерительная техника
Дод.точки доступу:
Кудеяров, Юрий Алексеевич

Примірників усього: 1
аб.1 (1)
Вільні: аб.1 (1)

Знайти схожі

4.
   537.5
   М43


   
    Межотраслевое совещание по полевой эмиссионной микроскопии (Харьков, 20-22 сентября 1989 г.) [Текст] : тезисы докладов / Харьков. физ.-техн. ин-т. - [Б. м. : б. в.], 1989. - 74 с. - 0,8 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
микроскопия
Примірників усього: 2
0 (2)
Вільні: 0 (2)

Знайти схожі

5.
535.8
Л 42


    Лейзеганг, З.
    Электронная микроскопия [Текст] = Elektronenmikroskope : научное издание / З. Лейзеганг ; пер. Г. В. Дер-Шварц. - Москва : Иностр. лит., 1960. - 240 с. : ил. - 1.21 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
МИКРОСКОПЫ -- ИСТОЧНИКИ ЭЛЕКТРОНОВ -- ВАКУУМ
Дод.точки доступу:
Дер-Шварц, Г. В. \пер.\

Примірників усього: 5
аб.3 (1), аб.1 (2), аб.4 (2)
Вільні: аб.3 (1), аб.1 (2), аб.4 (2)

Знайти схожі

6.
   621.385.8
   Р 24


    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ [Текст] = Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : в 2 кн.
   Кн. 1 / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ.: Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комолова ; ред. В. И. Петров. - Москва : Мир, 1984. - 303 с. : ил. - 3.00 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУЧКИ -- СПЕКТРОМЕТРЫ -- ДИСПЕРСИЯ -- ДЛИНЫ ВОЛН
Дод.точки доступу:
Гоулдстейн, Дж.
Ньюбери, Д.
Эчлин, П.
Джой, Д.
Фиори, Ч.
Лифшин, Э.
Гвоздовер, Р. С. \пер. с англ.\
Комолова, Л. Ф. \пер. с англ.\
Петров, В. И. \ред.\

Примірників усього: 1
аб.1 (1)
Вільні: аб.1 (1)

Знайти схожі

7.
621.385.8
Р 24


    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ [Текст] : в 2-х кн.
   Кн. 2 / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер.: Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комолова ; ред. пер. В. И. Петров. - Москва : Мир, 1984. - 348 с. : ил. - 3.10 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
БИОЛОГИЧЕСКИЕ ОБРАЗЦЫ -- ВЛАГОСОДЕРЖАЩИЕ ОБРАЗЦЫ -- ПРЕПАРИРОВАНИЕ -- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Дод.точки доступу:
Гоулдстейн, Дж.
Ньюбери, Д.
Эчлин, П.
Джой, Д.
Фиори, Ч.
Лифшин, Э.
Гвоздовер, Р. С. \пер.\
Комолова, Л. Ф. \пер.\
Петров, В. И. \ред. пер.\

Примірників усього: 2
аб.1 (2)
Вільні: аб.1 (2)

Знайти схожі

8.
   537.5
   Ш 61


    Шиммель, Г.
    Методика электронной микроскопии [Текст] : научное издание / Г. Шиммель ; пер.: А. М. Розенфельд, М. Н. Спасский ; ред. В. Н. Рожанский. - Москва : Мир, 1972. - 300 с. : ил. - 1.62 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
ЭЛЕКТРОННОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- РАДИАЦИЯ -- МИКРОСКОПИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ
Дод.точки доступу:
Розенфельд, А. М. \пер.\
Спасский, М. Н. \пер.\
Рожанский, В. Н. \ред.\

Примірників усього: 1
аб.4 (1)
Вільні: аб.4 (1)

Знайти схожі

9.
   537.5
   Т 56


    Томас, Г.
    Просвечивающая электронная микроскопия материалов [Текст] : научное издание : пер. с англ. / Г. Томас, М. Дж. Гориндж ; ред. пер. Б. К. Вайнштейн. - Москва : Наука, 1983. - 318 с. : ил. - 3.90 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
ЭЛЕКТРОНЫ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ МАТЕРИАЛОВ -- ЗАКОН БРЭГГА -- ТЕОРИЯ КОНТРАСТА -- ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ
Дод.точки доступу:
Гориндж, М. Дж.
Вайнштейн, Б. К. \ред. пер.\

Примірників усього: 7
аб.4 (6), чз.2 (1)
Вільні: аб.4 (6), чз.2 (1)

Знайти схожі

10.
   621.385
   П 32


    Пилянкевич, Александр Николаевич.
    Электронные микроскопы [Текст] / А. Н. Пилянкевич, А. М. Климовицкий. - Киев : Техніка, 1976. - 168 с. : ил. - 0.91 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- ФОКУСИРОВКА -- КАУСТИКА
Дод.точки доступу:
Климовицкий, Анатолий Миронович

Примірників усього: 4
аб.1 (2), аб.3 (2)
Вільні: аб.1 (2), аб.3 (2)

Знайти схожі

11.
   539.12
   Б 70


    Блохинцев, Дмитрий Иванович.
    Пространство и время в микромире [Текст] / Д. И. Блохинцев. - 2-е изд., испр. - Москва : Наука, 1982. - 350 с. : ил. - 1.40 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСКОПИЯ -- МАТРИЦЫ
Примірників усього: 5
аб.4 (4), аб.1 (1)
Вільні: аб.4 (4), аб.1 (1)

Знайти схожі

12.
   537.5
   К 27


    Карупу, Вальтер Янович.
    Электронная микроскопия [Текст] : учебное пособие / В. Я. Карупу. - Киев : Вища шк., 1984. - 208 с. : ил. - 0.85 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
УЛЬТРАМИКРОТОМЫ -- КОНТРАСТИРОВАНИЕ -- ФОТОРАБОТЫ
Примірників усього: 6
аб.4 (3), аб.3 (1), аб.1 (2)
Вільні: аб.4 (3), аб.3 (1), аб.1 (2)

Знайти схожі

13.
   537.5
   Д95


    Дюков, Валентин Георгиевич.
    Электронная микроскопия локальных потенциалов [Текст] / В. Г. Дюков, С. А. Непийко, Н. Н. Седов ; отв. ред. Л. С. Палатник ; ИФ АН УССР. - Киев : Наук. думка, 1991. - 200 с. : ил., табл. - 3.90 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
ОТОБРАЖЕНИЕ -- МАГНИТНЫЕ ПОЛЯ -- ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПОЛЯ -- ТРАЕКТОРИЯ ЭЛЕКТРОНА -- ИЗМЕРЕНИЕ ПОТЕНЦИАЛА -- ПОЛЕВОЙ КОНТРАСТ -- ПОТЕНЦИАЛЬНЫЙ КОНТРАСТ -- ФАКТОРЫ -- ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ
Дод.точки доступу:
Непийко, Сергей Алексеевич
Седов, Николай Николаевич
Палатник, Л. С. \отв. ред.\
АН УССР. Институт физики

Примірників усього: 1
аб.1 (1)
Вільні: аб.1 (1)

Знайти схожі

14.
   535.8
   Т 56


    Томас, Г.
    Электронная микроскопия металлов : Прямое исследование металлов в просвечивающем электронном микроскопе [Текст] = Transmission Electron Microscopy of Metals : научное издание / Г. Томас ; пер. Л. М. Утевский. - Москва : Иностр. лит., 1963. - 351 с. : ил. - 1.58 р.
ДРНТІ
УДК
Дод.точки доступу:
Утевский, Л. М. \пер.\

Примірників усього: 4
аб.4 (1), аб.1 (3)
Вільні: аб.4 (1), аб.1 (3)

Знайти схожі

15.
   548.4
   Э 45


   
    Электронномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки [Текст] : справочное руководство / ред.: В. М. Косевич, Л. С. Палатник. - Москва : Наука, 1976. - 224 с. : ил. - 1.12 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
ДИСЛОКАЦИОННЫЕ СЕТКИ -- МЕЖКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ГРАНИЦЫ -- ДИСЛОКАЦИОННЫЕ ПЕТЛИ -- ЧАСТИЧНЫЕ ДИСЛОКАЦИИ
Дод.точки доступу:
Косевич, В. М. \ред.\
Палатник, Л. С. \ред.\

Примірників усього: 4
аб.1 (2), аб.4 (2)
Вільні: аб.1 (2), аб.4 (2)

Знайти схожі

16.
   621.385.8
   П 69


   
    Практическая растровая электронная микроскопия [Текст] = Practical Scaanning Electron Microscopy : научное издание / ред.: Дж. Гоулдстейн, Х. Яковиц ; пер. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1978. - 656 с. : рис., табл.
ДРНТІ
УДК
Дод.точки доступу:
Гоулдстейн, Дж. \ред.\
Goldstein, J.
Яковиц, Х. \ред.\
Yakowitz, H.
Петрова, В. И. \пер.\

Вільних прим. немає

Знайти схожі

17.
   535.8
   П 76


   
    Применение электронной микроскопии [Текст] : сборник докладов, прочитанных на Европейском конгрессе по применению электронной микроскопии / ред. пер. А. И. Гардин. - Москва : Металлургиздат, 1957. - 166 с. : ил. - 0.64 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
отражательный электронный микроскоп -- рентгеновский микроскоп -- электронная оптика -- электронно-микроскопические исследования
Дод.точки доступу:
Гардин, А. И. \ред. пер.\

Примірників усього: 1
аб.3 (1)
Вільні: аб.3 (1)

Знайти схожі

18.
   537.5
   Э 45


   
    Электронная микроскопия [Текст] : сборник лабораторных работ и задач с решениями / А. Г. Багмут [и др.] ; НТУ “ХПИ”. - Харьков : НТУ “ХПИ”, 2016. - 228 с. : табл., рис. - ISBN 978-617-05-0201-8 : 123.22 грн
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ -- ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ СНИМКИ -- МИКРОФОТОГРАФИИ -- ОБРАБОТКА ДАННЫХ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП
Есть полнотекстовые версии (доступ потребує авторизації)

Дод.точки доступу:
Багмут, Александр Григорьевич (доктор физико-математических наук)
Багмут, Иван Александрович (кандидат технических наук)
Косевич, Вадим Маркович (доктор физико-математических наук)
Николайчук, Григорий Павлович (кандидат физико-математических наук)
Резник, Николай Александрович
Национальный технический университет “Харьковский политехнический институт”

Примірників усього: 10
аб.4 (8), чз.2 (1), аб.1 (1)
Вільні: аб.4 (8), чз.2 (1), аб.1 (1)

Знайти схожі

19.
   541.1
   E50


    Emons, Hans-Heinz.
    Chemische Mikroskopie [Текст] : eine Einführung in Theorie und Praxis Mikroskopischer Untersuchungsmethoden / H.-H. Emons, H. Keune, H. -H. Seyfarth. - Leipzig : VEB Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie, 1973. - 304 S. : Bild., Tab., Taf., Übers. - 5.20 rub
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
ХИМИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ -- КРИСТАЛЛООПТИКА -- МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ -- РЕГИСТРАЦИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ -- ОБРАБОТКА ИЗОБРАЖЕНИЙ -- ИЗМЕРЕНИЕ ФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ -- МИКРОСКОПЫ -- KRISTALLOPTIK -- MIKROSKOPISCHE GERATE -- BILDREGISTRIERUNG -- MEßWERTERFASSUNG -- MESSUNG PHYSIKALISCHER EIGENSCHAFTEN -- MIKROSKOP
Дод.точки доступу:
Keune, Hans
Seyfarth, Hans-Heinz

Примірників усього: 1
аб.1 (1)
Вільні: аб.1 (1)

Знайти схожі

20.
   537.5
   Б 14


    Багмут, Александр Григорьевич (доктор физико-математических наук).
    Введение в просвечивающую электронную микроскопию “in situ” [Текст] : учеб. пособие / А. Г. Багмут, И. А. Багмут ; НТУ “ХПИ”. - Харьков : В деле, 2020. - 176 с. : табл., рис. - ISBN 978-617-7305-44-5 : 68.00 грн
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
электронная микроскопия -- просвечивающий электронный микроскоп -- электронно-микроскопическое изображение -- дефекты кристаллоы -- метод“ in situ” -- аморфные пленки -- кристаллизация аморфных пленок
Есть полнотекстовые версии (доступ потребує авторизації)

Дод.точки доступу:
Багмут, Иван Александрович (кандидат технических наук)
Багмут, Александр Григорьевич \дар.\
Национальный технический университет “Харьковский политехнический институт”

Примірників усього: 3
чз.2 (1), аб.1 (1), аб.4 (1)
Вільні: чз.2 (1), аб.1 (1), аб.4 (1)

Знайти схожі

 1-10    11-20   21-22 
 

Наша адреса: 61000, Харків, вул. Кирпичова, 2
Науково-технічна бібліотека НТУ "ХПІ"
Контактний телефон: (057) 707-63-07
E-mail: library@khpi.edu.ua