Д 37 Chumak, V. S. Study of growth feature in multilayer WC/Si X-ray mirrors by transmission electron microscopy and X-ray diffraction [Текст] / V. S. Chumak, Y. P. Pershyn> // X міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів : матеріали конф., 5-8 квіт. 2016 р. : у 3 ч. / НТУ “ХПІ”, Мішкольцький університет, Магдебурзький університет, Петрошанський університет, Познанська політехніка, СУ; ред. Є. І. Сокол ; дар. Р. С. Томашевський. - Харків : НТУ “ХПІ”, 2016. - Ч. 2. - С. 64-65 . - ISBN 978-617-05-0173-8 Кл.слова (ненормовані): x-ray equipment -- optical devices -- astrophysics Дод.точки доступу: Сокол, Євген Іванович (ректор ; 14.02.1952) \ред.\ Сокол, Евгений Иванович (ректор ; 14.02.1952) Томашевський, Роман Сергійович \дар.\ Pershyn, Y. P. Національний технічний університет “Харківський політехнічний інститут” Мішкольцький університет Магдебурзький університет Петрошанський університет Познанська політехніка Софійський університет Примірників усього: 3 аб.1 (3) Вільні: аб.1 (3) |