Ч448.4(4УКР)
   Д 37


    Chumak, V. S.
    Study of growth feature in multilayer WC/Si X-ray mirrors by transmission electron microscopy and X-ray diffraction [Текст] / V. S. Chumak, Y. P. Pershyn // X міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів : матеріали конф., 5-8 квіт. 2016 р. : у 3 ч. / НТУ “ХПІ”, Мішкольцький університет, Магдебурзький університет, Петрошанський університет, Познанська політехніка, СУ; ред. Є. І. Сокол ; дар. Р. С. Томашевський. - Харків : НТУ “ХПІ”, 2016. - Ч. 2. - С. 64-65 . - ISBN 978-617-05-0173-8
ББК Ч448.4(4УКР)л0 + Ч448.4(4УКР)708 НТУ “ХПІ”л0

Кл.слова (ненормовані):
x-ray equipment -- optical devices -- astrophysics
Дод.точки доступу:
Сокол, Євген Іванович (ректор ; 14.02.1952) \ред.\
Сокол, Евгений Иванович (ректор ; 14.02.1952)
Томашевський, Роман Сергійович \дар.\
Pershyn, Y. P.
Національний технічний університет “Харківський політехнічний інститут”
Мішкольцький університет
Магдебурзький університет
Петрошанський університет
Познанська політехніка
Софійський університет

Примірників усього: 3
аб.1 (3)
Вільні: аб.1 (3)