539.23
   Ф 37


    Фелдман, Л.
    Основы анализа поверхности и тонких пленок [Текст] = Fundamentals of Surface and Thin Film analysis / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. В. А. Аркадьев ; пер с англ. Л. И. Огнев ; ред. В. В. Белошицкий. - Москва : Мир, 1989. - 344 с. : ил. - ISBN 5-03-001017-3 : 3.70 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
анализ поверхностей -- тонкие пленки
Дод.точки доступу:
Майер, Д.
Аркадьев, В. А. \пер. с англ.\
Огнев, Л. И. \пер с англ...\
Белошицкий, В. В. \ред.\

Примірників усього: 4
аб.4 (3), аб.1 (1)
Вільні: аб.4 (3), аб.1 (1)