Ф 37 Фелдман, Л. Основы анализа поверхности и тонких пленок [Текст] = Fundamentals of Surface and Thin Film analysis / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. В. А. Аркадьев ; пер с англ. Л. И. Огнев ; ред. В. В. Белошицкий. - Москва : Мир, 1989. - 344 с. : ил. - ISBN 5-03-001017-3 : 3.70 р.
Кл.слова (ненормовані): анализ поверхностей -- тонкие пленки Дод.точки доступу: Майер, Д. Аркадьев, В. А. \пер. с англ.\ Огнев, Л. И. \пер с англ...\ Белошицкий, В. В. \ред.\ Примірників усього: 4 аб.4 (3), аб.1 (1) Вільні: аб.4 (3), аб.1 (1) |