Головна сторінка бібліотеки Спрощенний режим пошуку Інструкція з пошуку
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Книжкові видання- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повний інформаційнийкороткий
Пошуковий запит: (<.>K=ОАИ$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.

Форма документа : Однотомне видання
Шифр видання : 621.383.4/М 29 рукописний текст
Автор(и) : Марунько, Сергей Васильевич
Назва : Физические аспекты получения в квазизамкнутом объеме базовых слоев для фотоэлектрических преобразователей : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07
Вихідні дані : Харьков, 1987
Кільк.характеристики :191 с.: табл., фот.
Колективи : Харьковский политехнический институт
Примітки : Библиогр.: с. 184-191 (131 назв.)
ДРНТІ : 30.19
УДК : 621.383.4(04) + 539.2(04)
Ключові слова (''Вільн.індекс.''): коэффициент пересыщения паровых потоков--квантовые генераторы--мелкодисперсные слои
Зміст : Введение ; Литературный обзор ; Особенности устройства ФЭП и требования к его составным элементам ; Сравнительный анализ методов изготовления базовых слоев и причины невоспризводимости параметров ФЭП ; Постановка задачи ; Методики получения и исследования объектов ; Приготовление объектов исследования ; Методики исследования образцов ; Изучение соответствия получаемых базовых слоев и гетеропереходов требованиям их оптимальных вариантов ; Базовый слой ; Формирование базового слоя, обеспечивающего улучшенную геометрию границы гетероперехода ; Изучение характеристик перехода ; Разработка новых аспектов теоретического обеспечения технологии ; Массоперенос при конденсации в КЗО ; Критерий для определения типа парового потока при конденсации в КЗО ; Определение коэффициента пересыщения при конденсации в вакууме ; Особенности переноса примеси в квазизамкнутом объеме ; Меры по обеспечению адекватности, измерения параметров выращивания базового слоя ; Проблемы адекватности измерений параметров конденсации в КЗО ; Способ повышения точности измерения характеристик пара внутри КЗО ; Практическое применение разработок ТОТ и ОАИ ; Практическое применение разработанных аналитических описаний процессов в КЗО ; Усовершенствованная камера КЗО ; Режимы выращивания базовых слоев
Примірники :чз.1(1)
Вільні : чз.1(1)
Знайти схожі

 

Наша адреса: 61000, Харків, вул. Кирпичова, 2
Науково-технічна бібліотека НТУ "ХПІ"
Контактний телефон: (057) 707-63-07
E-mail: library@khpi.edu.ua