Головна сторінка бібліотеки Спрощенний режим пошуку Інструкція з пошуку
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Книжкові видання- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
у знайденому
 Знайдено у інших БД:Періодичні видання (25)
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Відсортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнятипом документа
Пошуковий запит: (<.>K=АМОРФНЫЕ ПЛЕНКИ<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 26
Показані документи с 1 по 10
 1-10    11-20   21-26 
1.
   062
   А 35


Азербайджанский государственный университет.

    Ученые записки Азербайджанского государственного университета [Текст] = Елми ǝсǝрлǝр / АГУ.Физика и математика = Физика вə риjазиjjат, № 1 / ред. М. Л. Расулов. - Баку : АГУ, 1971. - 96 с. : ил. - 0.42 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЕ УРАВНЕНИЯ -- КРАЕВЫЕ ЗАДАЧИ -- НЕЛИНЕЙНЫЕ УРАВНЕНИЯ -- ЗАДАЧА КОШИ -- МЕТОД КОНТУРНОГО ИНТЕГРАЛА -- МЕТОД КОНЕЧНЫХ РАЗНОСТЕЙ -- КОНДЕНСАТОР ЮЗА-РОЖАНСКОГО -- АМОРФНЫЕ ПЛЕНКИ
Дод.точки доступу:
Расулов, М. Л. \ред.\
Азербайджанский государственный университет

Примірників усього: 1
аб.1 (1)
Вільні: аб.1 (1)

Знайти схожі

2.
   062
   Ф 50


АН УССР. Физико-технический институт низких температур.

    Труды Физико-технического института низких температур [Текст] / ФТИНТ АН УССР.
   Вып. 21 : Физика низких температур / отв. ред. Б. И. Веркин. - Харьков : [б. в.], 1972. - 77 с. : ил. - 0.50 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
ПРОСТЕЙШИЕ МОЛЕКУЛЯРНЫЕ КРИСТАЛЛЫ -- ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ -- АМОРФНЫЕ ПЛЕНКИ -- МАГНЕТОСОПРОТИВЛЕНИЕ ПЛЕНОК
Дод.точки доступу:
Веркин, Б. И. \отв. ред.\
АН УССР. Физико-технический институт низких температур

Примірників усього: 1
аб.1 (1)
Вільні: аб.1 (1)

Знайти схожі

3.
   669.04
   Ф 50


   
    Физико-химические исследования металлургических процессов [Текст] : тр. вузов Российской Федерации. Вып. 1 / УПИ ; отв. ред. С. И. Попель. - Свердловск : УПИ, 1973. - 148 с. : ил. - 1.20 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
АМОРФНЫЕ ПЛЕНКИ -- ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ -- ЖИДКИЕ МЕТАЛЛЫ -- КОЛИЧЕСТВЕННАЯ ТЕРМОГРАФИЯ -- РАСКИСЛЕНИЕ ЖЕЛЕЗА -- ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ -- РАФИНИРОВАНИЕ СТАЛИ
Дод.точки доступу:
Попель, С. И. \отв. ред.\
Уральский политехнический институт

Примірників усього: 1
аб.1 (1)
Вільні: аб.1 (1)

Знайти схожі

4.
   669.04
   Ф 50


   
    Физико-химические исследования металлургических процессов [Текст] : тр. вузов Российской Федерации. Вып. 3 / УПИ ; отв. ред. С. И. Попель. - Свердловск : УПИ, 1975. - 142 с. : ил. - 1.18 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
АМОРФНЫЕ ПЛЕНКИ -- ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ -- ЖИДКИЕ МЕТАЛЛЫ -- КОЛИЧЕСТВЕННАЯ ТЕРМОГРАФИЯ -- РАСКИСЛЕНИЕ ЖЕЛЕЗА -- ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ -- РАФИНИРОВАНИЕ СТАЛИ
Дод.точки доступу:
Попель, С. И. \отв. ред.\
Уральский политехнический институт

Примірників усього: 2
аб.1 (2)
Вільні: аб.1 (2)

Знайти схожі

5.
539.23
Ф 50


    Физика тонких пленок. Современное состояние исследований и технические применения [Текст] = Physics of Thin Films : сб. статей / общ. ред.: М. Х. Франкомб, Р. У. Гофман, Д. Хасс.
   Т. VII / ред.: В. Б. Сандомирский, А. Г. Ждан. - Москва : Мир, 1977. - 443 с. : ил. - 2.90 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
АМОРФНЫЕ ПЛЕНКИ -- МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ -- СВЕТОФИЛЬТРЫ -- ЭЛЕКТРОМИГРАЦИЯ -- ЛЕНГМЮРОВСКИЕ МОЛЕКУЛЯРНЫЕ ПЛЕНКИ
Дод.точки доступу:
Франкомб, М. Х. \общ. ред.\
Гофман, Р. У. \общ. ред.\
Хасс, Дж. \общ. ред.\
Сандомирский, В. Б. \ред.\
Ждан, А. Г. \ред.\

Примірників усього: 2
аб.1 (1), аб.4 (1)
Вільні: аб.1 (1), аб.4 (1)

Знайти схожі

6.
   621.38
   П 47


    Поздеев, Ю. Л.
    Исследование природы электрических свойств некоторых МОП-систем [Рукопис] : дис. ... канд. физ.-мат. наук / Ю. Л. Поздеев ; науч. рук. Л. С. Палатник ; ХПИ. - Харьков : ХПИ, 1977. - 181 с. : фот. - Библиогр.: с. 166-180 (165 назв.)
    Зміст:
Литературный обзор . - С .10-49
1. Основные теоретические представления о зарядопереносе в аморфных диэлектрических пленках . - С .10-26
2. Современное состояние экспериментального исследования электронной кинетики в слоистых системах Ta-Ta2O5-Me . - С .26-39
3. Результаты экспериментального исследования электрических и физико-химических процессов в МОП-системах . - С .39-49
Методика препарирования и исследования образцов . - С .50-63
1. Препарирование систем с плоским и объемно-пористым металлическим электродом . - С .50-54
2. Исследование электронных и ионных процессов в МОП-системах . - С .54-63
Исследование природы зарядопереноса в аморфных пленках Ta2O5 и Nb2O5 . - С .64-83
Влияние термообработки систем Me-Me2O5-MnO2 на структуру и электрические свойства аморфных пленок Ta2O5 и Nb2O5 . - С .84-100
1. Временная и температурная зависимость ЭДС и ионных токов в системах . - С .84-89
2. Влияние термообработки на электрические свойства систем . - С .89-96
3. Влияние способа препарирования на термостабильность аморфных пленок . - С . 96-100
Исследование влияния полупроводникового электрода на электрические свойства систем . - С .101-125
1. Структурные превращения в пограничном слое полупроводникового электрода . - С .101-107
2. Фазовый состав пиролитического электрода, выращенного на поверхности Me2O5 . - С .107-125
Связь особенностей макроструктуры пленок Nb2O5 с аномальными свойствами слоистой системы Nb-Nb2O5-MnO2 . - С .126-143
Заключение . - С .144-149
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
аморфные пленки -- геттеры -- аморфные диэлектрики
Дод.точки доступу:
Палатник, Лев Самойлович (доктор физико-математических наук ; 1909-1994) \науч. рук. .\
Харьковский политехнический институт

Примірників усього: 1
чз.1 (1)
Вільні: чз.1 (1)

Знайти схожі

7.
   539.23
   Б 14


    Багмут, Александр Григорьевич (доктор физико-математических наук).
    Изучение дефектной структуры пленок Sb2S3 электронномикроскопическим методом разрешения решетки [Рукопис] : дис. ... канд. физ.-мат. наук: 01. 04. 07 / А. Г. Багмут ; науч. рук. В. М. Косевич ; ХПИ. - Харьков, 1979. - 213 с. : фот. - Библиогр.: с. 195-210 (137 назв.)
    Зміст:
Введение . - С .5-10
Аналитический обзор . - С .11-56
1. Основные направления исследований структуры кристаллов при прямом разрешении кристаллической решетки . - С .11-28
2. Формирование и передача контраста при прямом разрешении решетки . - С .28-34
3. Закономерности кристаллизации аморфных фаз . - С .34-45
4. Модели строения высокоугловых границ и их изучение электронномикроскопическим методом разрешения кристаллической решетки . - С .45-56
Методика получения и исследования образцов . - С .57-85
1. Приготовление объектов для работы с прямым разрешением кристаллической структуры . - С .57-62
2. Получение мелкокристаллических пленок Sb2S3 . - С .62-68
3. Работа с прямым разрешением кристаллической решетки в электронном микроскопе . - С .68-85
Дефектная структура монокристаллов сульфида сурьмы . - С .86-117
1. Дислокации . - С .86-94
2. Дислокационные скопления и стенки дислокаций . - С .94-98
3. Моделирование дислокаций и дефектов упаковки в кристаллах . - С .98-117
Дефектная структура , формирующаяся при сферолитном росте кристаллов Sb2S3 . - С .118-154
1. Малоугловые границы наклона . - С .118-134
2. Малоугловые границы кручения . - С .134-140
3. Положение примесных выделений при кристаллизации . - С .140-144
4. Механизмы введения дислокаций в монокристальные зародыши и структурная модель формирования сферолита . - С .144-154
Исследование структуры высокоугловых границ в Sb2S3 методов прямого разрешения решетки . - С .155-190
1. Сопряжение строк изображений плоскостей решетки на границе. Геометрическое рассмотрение . - С .155-162
2. Особенности сопряжения строк изображений плоскостей на границах совпадающих узлов . - С .162-170
3. Изображения границ в кристаллах сульфида сурьмы . - С .170-177
4. Взаимосвязь высокоугловых и малоугловых границ . - С .177-181
5. 0 - решетка и структура границ в Sb2S3 . - С .181-190
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
ЛУЧЕВАЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ -- АМОРФНЫЕ ПЛЕНКИ -- СФЕРОЛИТЫ
Дод.точки доступу:
Косевич, Вадим Маркович (02.03.1931) \науч. рук. .\
Харьковский политехнический институт

Примірників усього: 1
чз.1 (1)
Вільні: чз.1 (1)

Знайти схожі

8.
   539.23
   О-72


    Осецкая, Виктория Константиновна.
    Структура, фотоэлектрические и оптические свойства системы T1- As - C6 (C6 - S, Se, Te) [Рукопис] : дис. ... канд. физ.-мат. наук / В. К. Осецкая ; рук. работы В. А. Базакуца ; ХПИ. - Харьков, 1983. - 180 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 164-180 (151 назв.)
    Зміст:
Введение . - С .5-14
Основные особенности получения, структуры и полупроводниковых свойств системы T1 - As -C6 . - С .15-41
1. Особенности стеклообразования и химического взаимодействия в системе . - С .15-18
2. Химическая связь и закономерности изменения физических параметров халькогенидных полупроводников . - С .18-21
3. Влияние перехода стекло-кристалл на локальную структуру халькогенидных полупроводников и их физические свойства . - С .21-24
4. Рентгеноструктурные исследования монолитных образцов системы . - С .24-35
5. Изучение химического состава стекол методом обратного рассеяния . - С .36-40
6. О перспективах практического применения полупроводниковых материалов . - С .40-41
Получение пленок соединений T1 As C6 и изучение их состава и структуры . - С .42-76
1. Масс-спектрометрические исследования процессов испарения стекол . - С .43-50
2. Получение пленок методом дискретного испарения . - С .50-59
3. Исследование структурных особенностей системы в кристаллическом и аморфном состояниях методом длинноволновой ИК-спектроскопии . - С .59-64
4. Электроннографическое изучение структуры аморфных пленок . - С .64-76
Изучение некоторых физических свойств монолитных и пленочных образцов системы T1-As-C6 и их электронной энергетической структуры . - С .77-130
1. Электропроводность и термо - э.д.с. стекол . - С .77-93
2. Исследование электропроводности, фотопроводимости и термостимулированных токов аморфных пленок и установление их электронной энергетической структуры . - С .93-118
3. Взаимосвязь структуры , физических свойств и характера химической связи соединений . - С .125-130
Изменение структуры и оптических свойств аморфных пленок системы T1-As-C6 под влиянием примесей и внешних воздействий . - С .131-159
1. Оптические характеристики аморфных слоев и их фотостимулирование изменения . - С .131-143
2. Влияние примесей ртути на светочувствительность слоев . - С .143-152
3. О природе фотоиндуцированных изменений оптических параметров пленок сложных халькогенидных полупроводников . - С .152-159
Заключение и основные результаты работы . - С .160-163
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
МЕТОД АННИГИЛЯЦИИ ПОЗИТРОНОВ -- ДИСКРЕТНОЕ ИСПАРЕНИЕ ПЛЕНОК -- АМОРФНЫЕ ПЛЕНКИ
Дод.точки доступу:
Базакуца, Владимир Арсентьевич \рук. работы.\
Харьковский политехнический институт

Примірників усього: 1
чз.1 (1)
Вільні: чз.1 (1)

Знайти схожі

9.
   539.23
   П 27


    Перекрестов, Вячеслав Иванович.
    Электрофизические свойства и механизмы зарядопереноса в пленках и массивных образцах Li (Na) Bi Te2 [Рукопис] : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / В. И. Перекрестов ; науч. ред. В. А. Базакуца ; ХПИ. - Харьков, 1984. - 173 c. : рис., табл., фот. - Библиогр.: с. 152-173 (159 назв.)
    Зміст:
Введение . - С .5-12
Состав, химическая связь и физические свойства соединений А1В5С6 . А также некоторые особенности электронных свойств неупорядоченных систем . - С .13-41
1. Общие замечания . - С .13-20
2. Физико-химические и электрофизические свойства соединений Li(Na)BiTe2 . - С .20-29
3. Основные положения теоретических и экспериментальных исследований электронных свойств неупорядоченных систем . - С .29-41
Получение пленок и методики проведения исследований их структуры и электрофизических свойств . - С .42-61
1. Вакуумная установка для получения пленок . - С .42-45
2. Испарение соединений Li(Na)BiTe2 . - С .45-47
3. Термообработка пленок под защитным слоем SiO . - С .47-51
4. Отделение защитного слоя от пленок . - С .51-55
5. Анализ химического состава в массивном и пленочном видах . - С .55-56
6. Методики проведения структурных и электрофизических исследований . - С .56-62
Влияние температуры конденсации защитного слоя на структурно-фазовые превращения в пленках Li(Na)BiTe2 . - С .62-82
2. Влияние температуры конденсации на структуру и фазовый состав пленок . - С .62-69
3. Некоторые особенности кристаллизации аморфных пленок LiBiTe2 и NaBiTe2 , незащищенных слоем SIO . - С .69-72
4. Кристаллизация пленок при воздействии электронным пучком в колонне микроскопа . - С .72-83
Электрофизические свойства и механизмы зарядопереноса в аморфных пленках Li(Na)BiTe2 . - С .83-110
Электрофизические свойства кристаллических пленок Li(Na)BiTe2 . - С .110-145
1. Толщинная и температурная зависимости электрофизических свойств рекристаллизованных пленок . - С .111-118
2. Переход полупроводник-металл в рекристаллизованных пленках . - С .118-123
3. Концентрация и холловская подвижность электронов в рекристаллизованных пленках . - С .123-126
4. Влияние перекристаллизации на електрофизические свойства пленок . - С .126-135
5. Теплофизические свойства кристаллических пленок . - С .135-145
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ -- АМОРФНЫЕ ПЛЕНКИ -- СТРУКТУРНО-ФАЗОВЫЕ ПРЕВРАЩЕНИЯ В ПЛЕНКАХ -- ПОЛУЧЕНИЕ ПЛЕНОК
Дод.точки доступу:
Базакуца, Владимир Арсентьевич \науч. рук.\
Харьковский политехнический институт

Примірників усього: 1
чз.1 (1)
Вільні: чз.1 (1)

Знайти схожі

10.
   669.04
   Ф 50


   
    Физико-химические исследования металлургических процессов [Текст] : межвуз. сб. науч. тр. Вып. 12 / УПИ ; отв. ред. С. И. Попель. - Свердловск : УПИ, 1984. - 149 с. : ил. - ISSN 0321-4842. - 1.60 р.
ДРНТІ
УДК

Кл.слова (ненормовані):
АМОРФНЫЕ ПЛЕНКИ -- ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ -- ЖИДКИЕ МЕТАЛЛЫ -- КОЛИЧЕСТВЕННАЯ ТЕРМОГРАФИЯ -- РАСКИСЛЕНИЕ ЖЕЛЕЗА -- ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ -- РАФИНИРОВАНИЕ СТАЛИ
Дод.точки доступу:
Попель, С. И. \отв. ред.\
Уральский политехнический институт

Примірників усього: 1
аб.1 (1)
Вільні: аб.1 (1)

Знайти схожі

 1-10    11-20   21-26 
 

Наша адреса: 61000, Харків, вул. Кирпичова, 2
Науково-технічна бібліотека НТУ "ХПІ"
Контактний телефон: (057) 707-63-07
E-mail: library@khpi.edu.ua