Library home page Simple search mode Help
Login
Surname
Password
 

Databases


Book publications- результаты поиска

Search mode

Search area
 Найдено в других БД:Full-text database of textbooks (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=свойства кремния<.>)
Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6
1.
   546.28
   Б 43


    Белостоцкая, И. С.
    Химия кремния [Текстььь] : учеб. пособие / И. С. Белостоцкая. - Москва : Инфра-М, 2004. - 64 с. - (Среднее профессиональное образование). - ISBN 5-16-002002-0 : 17.00 грн
ГРНТИ
УДК

Keywords:
свойства кремния -- органические соединения кремния -- кремнезем -- силикатное производство -- стекло -- ситаллы
Экземпляры всего: 1
чз.2 (1)
Свободны: чз.2 (1)

Find similar

2.
   621.383
   О-62


    Оптоэлектроника и полупроводниковая техника [Текстььь] = Optoelectronics and Semiconductor Technics : сб. науч. тр.
   Вып. 44 / ИФП НАНУ ; гл. ред. С. В. Свечников. - Киев : Наук. думка, 2009. - 118 с. - 100.00 грн
    Содержание:
Толмачев, И. Д. Применение халькогенидных стеклообразных полупроводников в сенсорах и сенсорных системах / И. Д. Толмачев, А. В. Стронский. - С .5-22
фывфыв: сенсорные элементы, полупроводники стеклообразные халькогнидные, полупроводниковая техника
Охрименко, О. Б. Дефектные состояния на границе диэлектрический слой / карбид кремния / О. Б. Охрименко. - С .23-40
фывфыв: структура дефектов, карбид кремния, твердотельная электроника
Шеремет, В. Н. Особенности создания и электрофизические свойства омических контактов к нитриду галлия / В. Н. Шеремет. - С .41-59
фывфыв: тугоплавкие металлы, омический контакт, нитрид галлия
Вахула, А. А. Моделирование параметров тонкопленочных структур для колориметрического анализа жидких сред / А. А. Вахула. - С .60-67
фывфыв: фленелевские коэффициенты, многослойная тонкопленочная структура, анализ колориметрический
Данько, В. А. Застосування двошарового халькогенідного фоторезисту для інтерференційної фотолітографії / В. А. Данько [та ін.]. - С .68-73
Другие авторы: Індутний І. З., Минько В. І., Литвин О. С., Шепелявий П. Є.
фывфыв: літографія інтерференційна, селективне травлення, фоторезист халькогенідний
Індутний, І. З. Вплив селективного травлення на спектр фотолюмінесценції поруватих nc-SI-SIOx структур / І. З. Індутний, К. В. Михайловська, П. Є. Шепелявий. - С .74-79
фывфыв: фотолюмінесценція, оксид кремнію, нанокристали
Денисюк, Р. А. Химико-динамическое полирование монокристаллов Cd1-xMnxTe травителями H2O2-HI-винная кислота / Р. А. Денисюк [и др.]. - С .80-83
Другие авторы: Томашик В. Н., Томашик З. Ф., Чрнюк А. С., Грыцив В. И.
фывфыв: твердые растворы, химическое травление, полирование монокристаллов
Сукач, А. В. Исследование природы избыточного тока в InSb-фотодиодах / А. В. Сукач, В. В. Тетеркин. - С .84-91
фывфыв: туннельный ток, фотодиоды, полупроводниковая техника
Сукач, А. В. Спектральная фоточувствительность охлаждаемых InAs p-n-переходов / А. В. Сукач [и др.]. - С .92-99
Другие авторы: Тетеркин В. В., Ворощенко А. Т., Лукьяненко В. И., Луцишин И. Г.
фывфыв: арсенид индия, фоточувствительность спектральная, полупроводниковая техника
Тріщук, Л. І. Вирощування монокристалів телуридів цинку та кадмію кристалізацією із розчинів-розплавів / Л. І. Тріщук. - С .100-108
фывфыв: тверді розчини, монокристали, метод кристалізації
Литовченко, Н. М. Вплив наноструктур, сформованих на поверхні кристалів CdZnTe методом лазерного сканування, на спектри їх низькотемпературної фотолюмінесценції / Н. М. Литовченко [та ін.]. - С .109-113
Другие авторы: Литвин П. М., Медвідь А. П., Мичко А. М., Насєка Ю. М., Стрільчук О. М.
фывфыв: ефект квантового обмеження, фотолюмінесценція, наноструктури
Далиев, Х. С. Особенности дефектообразования в кремнии при легировании никелем различными методами / Х. С. Далиев [и др.]. - С .114-118
Другие авторы: Даулетмуратов Б. К., Утамурадова Ш. Б., Мирзаирова И. К., Далиев Ш. Х., Акимова Ж. О., Олимбеков З. О.
фывфыв: процесс легирования, свойства кремния, спектроскопия
ГРНТИ
УДК

Keywords:
сенсорные системы -- стеклообразные полупроводники -- лазерне сканування -- фотолітографія -- фотодіоди
Доп.точки доступа:
Свечников, С. В. \гл. ред.\
Литвин, О. С.
Шепелявий, П. Є.
Чрнюк, А. С.
Грыцив, В. И.
Лукьяненко, В. И.
Луцишин, И. Г.
Мичко, А. М.
Насєка, Ю. М.
Стрільчук, О. М.
Мирзаирова, И. К.
Далиев, Ш. Х.
Акимова, Ж. О.
Олимбеков, З. О.
НАН Украины. Институт физики полупроводников

Экземпляры всего: 1
аб.1 (1)
Свободны: аб.1 (1)

Find similar

3.
   546.28
   М 96


    Мышляева, Лидия Васильевна.
    Аналитическая химия кремния [Текстььь] / Л. В. Мышляева, В. В. Краснощеков ; гл. ред. А. П. Виноградов ; ГЕОХИ АН СССР. - Москва : Наука, 1972. - 211 с. : рис., табл. - (Аналитическая химия элементов). - 1.15 р.
ГРНТИ
УДК

Keywords:
аналитическая химия -- химия элементов -- свойства кремния -- кремний
Доп.точки доступа:
Краснощеков, Валентин Васильевич
Виноградов, А. П. \гл. ред.\
АН СССР. Институт геохимии и аналитической химии

Экземпляры всего: 1
аб.1 (1)
Свободны: аб.1 (1)

Find similar

4.
   540
   Г 83


    Григорьев, П. Н.
    Основы химии силикатов [Текстььь] : учебник для техникумов / П. Н. Григорьев. - 2-е изд. - Москва ; Ленинград : Гизлегпром, 1940. - 160 с. : рис., табл. - 0.73 р.
ГРНТИ
УДК

Keywords:
свойства кремния -- соединения кремния -- кристаллический кремнезем -- силикаты -- силикаты щелочных металлов
Экземпляры всего: 1
аб.1 (1)
Свободны: аб.1 (1)

Find similar

5.
   621.385
   П 53


   
    Полупроводниковые кремниевые диоды и триоды, технология производства [Текстььь] / Г. А. Зеликман [и др.]. - Москва ; Ленинград : Энергия, 1964. - 184 с. : ил. - 0.50 р.
ГРНТИ
УДК

Keywords:
свойства кремния -- электронно-дырочные переходы -- эпитаксиальное выращивание -- диоды кремниевые
Доп.точки доступа:
Зеликман, Г. А.
Мазель, Е. З.
Пресс, Ф. П.
Фронк, С. В.

Экземпляры всего: 1
аб.1 (1)
Свободны: аб.1 (1)

Find similar

6.
   621.383
   О-62


   
    Особенности дефектообразования в кремнии при легировании никелем различными методами [Текстььь] / Х. С. Далиев [и др.] // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника = Optoelectronics and Semiconductor Technics : сб. науч. тр. / ИФП НАНУ; гл. ред. С. В. Свечников. - Киев : Наук. думка, 2009. - Вып. 44. - С. 114-118
УДК

Keywords:
процесс легирования -- свойства кремния -- спектроскопия
Доп.точки доступа:
Свечников, С. В. \гл. ред.\
Далиев, Х. С.
Даулетмуратов, Б. К.
Утамурадова, Ш. Б.
Мирзаирова, И. К.
Далиев, Ш. Х.
Акимова, Ж. О.
Олимбеков, З. О.
НАН Украины. Институт физики полупроводников

Экземпляры всего: 1
аб.1 (1)
Свободны: аб.1 (1)

Find similar

 

Наш адрес: 61000, Харьков, ул. Кирпичева, 2
Научно-техническая библиотека НТУ "ХПИ"
Контактный телефон: (057) 707-63-07
E-mail: library@khpi.edu.ua