|
Вид документа : Статья из сборника (том многотомника) Шифр издания : 548.5/М 77 Автор(ы) : Дудник А. Р., Коваленок Р. В., Лагутина В. Н. Заглавие : Влияние контактного слоя при измерении коэффициента поглощения ультразвуковых волн в кристаллах импульсным методом Коллективы : Всесоюзный научно-исследовательский институт монокристаллов, сцинтилляционных материалов и особо чистых веществ Место публикации : Монокристаллы и техника: сб. ст./ ВНИИ монокристаллов. - Харьков: ВНИИ монокристаллов, 1973. - Вып. 1(8). - С. 150-157 (Шифр 548.5/М 77-654173) УДК : 548.5 Keywords (''Своб.индексиров.''): ультразвуковые измерения--кристаллы--коэффициент поглощения волн Доп.точки доступа: Чайковский, Э. Ф. \отв. ред.\ Коваленок, Р. В. Лагутина, В. Н. Всесоюзный научно-исследовательский институт монокристаллов, сцинтилляционных материалов и особо чистых веществ |