Вид документа : Статья из сборника (том многотомника)
Шифр издания : 548.5/М 77
Автор(ы) : Смушков И. В., Ткаченко В. Ф.
Заглавие : Высокочувствительная рентгенографическая методика фазового анализа для фаз с близкой рассеивающей способностью
Коллективы : Всесоюзный научно-исследовательский институт монокристаллов, сцинтилляционных материалов и особо чистых веществ
Место публикации : Монокристаллы и техника: сб. ст./ ВНИИ монокристаллов. - Харьков: ВНИИ монокристаллов, 1973. - Вып. 1(8). - С. 137-142 (Шифр 548.5/М 77-654173)
УДК : 548.5
Keywords (''Своб.индексиров.''): анализ фазовый--рентгеновская дифрактометрия--рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа:
Чайковский, Э. Ф. \отв. ред.\
Ткаченко, В. Ф.
Всесоюзный научно-исследовательский институт монокристаллов, сцинтилляционных материалов и особо чистых веществ