|
Вид документа : Статья из сборника (том многотомника) Шифр издания : 548.5/М 77 Автор(ы) : Смушков И. В., Ткаченко В. Ф. Заглавие : Высокочувствительная рентгенографическая методика фазового анализа для фаз с близкой рассеивающей способностью Коллективы : Всесоюзный научно-исследовательский институт монокристаллов, сцинтилляционных материалов и особо чистых веществ Место публикации : Монокристаллы и техника: сб. ст./ ВНИИ монокристаллов. - Харьков: ВНИИ монокристаллов, 1973. - Вып. 1(8). - С. 137-142 (Шифр 548.5/М 77-654173) УДК : 548.5 Keywords (''Своб.индексиров.''): анализ фазовый--рентгеновская дифрактометрия--рентгеноструктурный анализ Доп.точки доступа: Чайковский, Э. Ф. \отв. ред.\ Ткаченко, В. Ф. Всесоюзный научно-исследовательский институт монокристаллов, сцинтилляционных материалов и особо чистых веществ |