621.385.8
   Р 24


    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ [Текстььь] = Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : в 2 кн.
   Кн. 1 / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ.: Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комолова ; ред. В. И. Петров. - Москва : Мир, 1984. - 303 с. : ил. - 3.00 р.
ГРНТИ
УДК

Keywords:
ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУЧКИ -- СПЕКТРОМЕТРЫ -- ДИСПЕРСИЯ -- ДЛИНЫ ВОЛН
Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Дж.
Ньюбери, Д.
Эчлин, П.
Джой, Д.
Фиори, Ч.
Лифшин, Э.
Гвоздовер, Р. С. \пер. с англ.\
Комолова, Л. Ф. \пер. с англ.\
Петров, В. И. \ред.\

Экземпляры всего: 1
аб.1 (1)
Свободны: аб.1 (1)