Р 24 Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ [Текстььь] = Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : в 2 кн. Кн. 1 / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ.: Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комолова ; ред. В. И. Петров. - Москва : Мир, 1984. - 303 с. : ил. - 3.00 р.
Keywords: ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУЧКИ -- СПЕКТРОМЕТРЫ -- ДИСПЕРСИЯ -- ДЛИНЫ ВОЛН Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. Ньюбери, Д. Эчлин, П. Джой, Д. Фиори, Ч. Лифшин, Э. Гвоздовер, Р. С. \пер. с англ.\ Комолова, Л. Ф. \пер. с англ.\ Петров, В. И. \ред.\ Экземпляры всего: 1 аб.1 (1) Свободны: аб.1 (1) |