Library home page Simple search mode Help
Login
Surname
Password
 

Databases


Periodical publications- результаты поиска

Search mode

Search area
 Найдено в других БД:Book publications (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=АТОМНОЕ РАЗРЕШЕНИЕ<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
Шифр: Н25/2012/2
   Журнал

Наука та інновації [Текстььь] : укр. огляд. журн. майбутнього : наук.- практ. журн./ Нац. акад. наук України. - Київ : Академперіодика, 2005 - . - ISSN 1815-2066. - Выходит раз в два месяца
2012г. N 2 . - 82.00, грн
Содержание:
Лисенко, О. Г. Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах / О. Г. Лисенко. - С.8-12
фывфыв: ЗОНДОВА МІКРОСКОПІЯ, ЗОНДОВА НАНОТЕХНОЛОГІЯ, ЕЛЕКТРОПРОВІДНИЙ АЛМАЗ
Фирстов, С. А. Механическая подготовка объектов для электронно-микроскопических исследований / С. А. Фирстов, Н. И. Даниленко. - С.17-22
фывфыв: димплер, микроскопия
Сторижко, В. Е. Изготовление микро- и наноразмерных структур с применением протонной пучковой литографии: современное состояние и перспективы развития / В. Е. Сторижко, В. И. Мирошниченко, А. Г. Пономарев. - С.17-22
фывфыв: ядерный сканирующий микрозонд, фабрикация наноструктур
Петров, Ю. В. Сканирующий ионный гелиевый микроскоп / Ю. В. Петров. - С.23-25
фывфыв: одноатомный источник, микроскопия
Пугач, В. М. Позиційно чутливі мікро-стріпові та мікро-піксельні детектори / В. М. Пугач. - С.26-33
фывфыв: металеві детектори, випромінювання
Чапон, П. Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™ / П. Чапон, О. К. Костенко. - С.34-38
фывфыв: тонкие пленки
Держипольский, А. Г. Просвечивающая электронная микроскопия вчера и сегодня: расширяя границы познаваемого / А. Г. Держипольский, Д. А. Меленевский. - С.39-42
фывфыв: коррекция аберраций, атомное разрешение, атомы
Бреска, П. Мульти-об’ємний аналіз нуклеїнових кислот з використанням спектрофотометричної системи EPOCH™ / П. Бреска, П. Бенкс, А. М. Волошин. - С.43-47
фывфыв: спектрофотометрія
Сухомлинов, А. Б. Новое оборудование японской корпорации SHIMADZU для исследовательских лабораторий / А. Б. Сухомлинов. - С.48-57
фывфыв: микроанализаторы, спектрофотометр, хроматограф
Верцанова, Е. В. Новые предложения компании STRUERS для материаловедческих лабораторий / Е. В. Верцанова. - С.58-64
фывфыв: материалографические исследования, запрессовка, пресс
Есауленко, А. Н. Новые приборы компании AGILENT TECHNOLOGIES для научных исследований / А. Н. Есауленко, А. В. Выпирайленко, М. Н. Гринченко. - С.65-72
фывфыв: хроматография, масс-детекторы, атомная спектроскопия
Артемьева, И. Н. Оборудование компании INTERTECH CORPORATION для лабораторного анализа и научных исследований / И. Н. Артемьева, С. Н. Романов. - С.73-79
фывфыв: термоанализ, молекулярный анализ, термический анализ
Компания LECO. 75 лет на мировом рынке аналитического оборудования. - С.80-81
фывфыв: корпорации, приборы
Системы ELECTROPULS - электродинамические испытательные машины будущего. - С.82-83
фывфыв: модели, биоматериалы, тканевая инженерия
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : чз.1 (1)
Свободны: чз.1 (1)

Find similar
Перейти к описаниям статей

2.


    Держипольский, А. Г.
    Просвечивающая электронная микроскопия вчера и сегодня: расширяя границы познаваемого [Текстььь] / А. Г. Держипольский, Д. А. Меленевский // Наука та інновації = Science and Innovation. - 2012. - N 2. - С. 39-42 . - ISSN 1815-2066

Keywords:
коррекция аберраций -- атомное разрешение -- атомы
Доп.точки доступа:
Меленевский, Д. А.

Экземпляры всего: 1
чз.1 (1)
Свободны: чз.1 (1)

Find similar

3.
Шифр: Н25/2012/8/2
   Журнал

Наука та інновації [Текстььь] : укр. огляд. журн. майбутнього : наук.- практ. журн./ Нац. акад. наук України. - Київ : Академперіодика, 2005 - . - ISSN 1815-2066. - Выходит раз в два месяца
2012г. т.8 N 2
Содержание:
Міжнародний інноваційний форум країн СНД–2011. - С.5-7
фывфыв: ВИСОКОТЕХНОЛОГІЧНА ПРОДУКЦІЯ, РИНОК, ІННОВАЦІЙНИЙ ПРОЦЕС
Лисенко, О. Г. Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах / О. Г. Лисенко. - С.8-12. - Бібліогр. в кінці ст.
фывфыв: ЕЛЕКТРОПРОВІДНИЙ АЛМАЗ, ЗОНДОВА НАНОТЕХНОЛОГІЯ, СКАНУВАЛЬНА ЗОНДОВА МІКРОСКОПІЯ
Фирстов, С. А. Механическая подготовка объектов для электронно–микроскопических исследований / С. А. Фирстов, Н. И. Даниленко. - С.13-16. - Библиогр. в конце ст.
фывфыв: АНАЛИТИЧЕСКАЯ ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, ДИМПЛЕР, ИОННОЕ ИЗМЕЛЬЧЕНИЕ
Сторижко, В. Е. Изготовление микро–и наноразмерных структур с применением протонной пучковой литографии: современное состояние и перспективы развития / В. Е. Сторижко, В. И. Мирошниченко, А. Г. Пономарев. - С.17-22. - Библиогр. в конце ст.
фывфыв: ПРОТОННАЯ ЗАПИСЬ, СКАНИРУЮЩИЙ ЯДЕРНЫЙ МИКРОЗОНД, НАНОФАБРИКАЦИЯ
Петров, Ю. В. Сканирующий ионный гелиевый микроскоп / Ю. В. Петров. - С.23-25. - Библиогр. в конце ст.
фывфыв: МОНОАТОМНЫЙ ИСТОЧНИК, ВЫСОКОЕ РАЗРЕШЕНИЕ, ГЕЛИЕВЫЙ ИОННЫЙ МИКРОСКОП
Pugatch, V. M. Position Sensitive Micro–Strip and Micro–Pixel Detectors / V. M. Pugatch. - С.26-33. - Bibliography is at the end of the article
фывфыв: МЕТАЛЛОДЕТЕКТОРЫ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ И СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, КОНТРОЛЬ ПУЧКОВ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, МИКРОПОЛОСКОВЫЕ И МИКРОПИКСЕЛЬНЫЕ ДЕТЕКТОРЫ
Чапон, П. Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD–OES и TOFMSтм / П. Чапон, О. К. Костенко. - С.34-38. - Библиогр. в конце ст.
фывфыв: ПЛАЗМА НАРАСТАЮЩЕГО РАЗРЯДА, РАСПРЕДЕЛЕНИЕ ЭЛЕМЕНТОВ, АНАЛИЗ ПОВЕРХНОСТИ
Держипольский, А. Г. Просвечивающая электронная микроскопия вчера и сегодня: расширяя границы познаваемого / А. Г. Держипольский, Д. А. Меленевский. - С.39-42. - Библиогр. в конце ст.
фывфыв: КОРРЕКЦИЯ АБЕРРАЦИЙ, АТОМНОЕ РАЗРЕШЕНИЕ, ИДЕНТИФИКАЦИЯ ОТДЕЛЬНЫХ АТОМОВ
Brescia, P. Multi–Volume Analysis of Nucleic Acids Using the EPOCHтм Spectrophotometer System / P. Brescia, P. Banks, А. Voloshin. - С.43-47. - Bibliography is at the end of the article
фывфыв: СПЕКТРОФОТОМЕТРИЯ, МНОГООБЪЕМНЫЙ АНАЛИЗ, НУКЛЕИНОВЫЕ КИСЛОТЫ
Сухомлинов, А. Б. Новое оборудование японской корпорации SHIMADZU для исследовательских лабораторий / А. Б. Сухомлинов. - С.48-57
фывфыв: СПЕКТРОФОТОМЕТР, МИКРОАНАЛИЗАТОР, ХРОМАТОГРАФ
Верцанова, Е. В. Новые предложения компании STRUERS для материаловедческих лабораторий / Е. В. Верцанова. - С.58-64
фывфыв: СТАНКИ ДЛЯ РЕЗКИ КРУПНОГАБАРИТНЫХ ДЕТАЛЕЙ, ОБОРУДОВАНИЕ, СТАНКИ ВЫСОКОЙ ТОЧНОСТИ
Есауленко, А. Н. Новые приборы компании AGILENT TECHNOLOGIES для научных исследований / А. Н. Есауленко, А. В. Выпирайленко, М. Н. Гринченко. - С.65-72
фывфыв: ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ХИМИЧЕСКОГО АНАЛИЗА, ГАЗОВЫЕ ХРОМАТОГРАФЫ, СИСТЕМЫ ДЛЯ КАПИЛЛЯРНОГО ЭЛЕКТРОФОРЕЗА
Артемьева, И. Н. Оборудование компании INTERTECH CORPORATION для лабораторного анализа и научных исследований / И. Н. Артемьева, С. Н. Романов. - С.73-79
фывфыв: АНАЛИТИЧЕСКОЕ ОБОРУДОВАНИЕ, ПРОБОПОДГОТОВКА, ТЕРМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : чз.1 (1)
Свободны: чз.1 (1)

Find similar
Перейти к описаниям статей

4.


    Держипольский, А. Г.
    Просвечивающая электронная микроскопия вчера и сегодня: расширяя границы познаваемого [Текстььь] / А. Г. Держипольский, Д. А. Меленевский // Наука та інновації = Science and Innovation : укр. огляд. журн. майбутнього : наук.- практ. журн. - 2012. - Том 8, N 2. - С. 39-42. - Библиогр. в конце ст. . - ISSN 1815-2066

Keywords:
КОРРЕКЦИЯ АБЕРРАЦИЙ -- АТОМНОЕ РАЗРЕШЕНИЕ -- ИДЕНТИФИКАЦИЯ ОТДЕЛЬНЫХ АТОМОВ
Доп.точки доступа:
Меленевский, Д. А.

Экземпляры всего: 1
чз.1 (1)
Свободны: чз.1 (1)

Find similar

 

Наш адрес: 61000, Харьков, ул. Кирпичева, 2
Научно-техническая библиотека НТУ "ХПИ"
Контактный телефон: (057) 707-63-07
E-mail: library@khpi.edu.ua